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硒化鍺晶體（百分之99.995）GeSe

簡要描述：硒化鍺晶體 GeSe （Germanium Selenide）
晶體尺寸：~10毫米
電學性能：半導體
晶體結構：斜方晶系
晶胞參數：a = 0.383 nm, b = 0.440 nm, c = 1.078 nm, α = β = γ = 90°
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%

  • 產品型號：
  • 廠商性質：生產廠家
  • 更新時間：2024-06-04
  • 訪  問  量：1504

詳細介紹

硒化鍺晶體 GeSe (Germanium Selenide)
晶體尺寸：~10毫米
電學性能：半導體
晶體結構：斜方晶系
晶胞參數：a = 0.383 nm, b = 0.440 nm, c = 1.078 nm, α = β = γ = 90°
晶體類型：合成
晶體純度：＞99.995%

X-ray diffraction on a GeSe single crystal aligned along the (100) plane. XRD was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker. The 4 XRD peaks correspond, from left to right, to (h00) with h = 2, 4, 6, 8

 

Powder X-ray diffraction (XRD) of a single crystal GeSe. X-ray diffraction was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker.

 

Stoichiometric analysis of a single crystal GeSe by Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDX).

 

Raman spectrum of a single crystal GeSe. Measurement was performed with a 785 nm Raman system at room temperature.

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